| ความรู้ทั่วไป : ใช้ศึกษาผิวของเซลล์หรือผิวของตัวอย่างวัตถุที่นำมาศึกษา โดยลำแสงอิเล็กตรอนจะส่องกราดไปบนผิวของวัตถุ ทำให้ได้ภาพซึ่งมีลักษณะ เป็นภาพ 3 มิติ และ X-rays detector หรือเทคนิค Energy Dispersive Spectroscopy, EDS หรือที่เรียกว่า EDX ซึ่งสามารถรองรับงานการ ศึกษาสภาพพื้นผิวของตัวอย่าง ทางวิทยาศาสตร์ชีวภาพ วิทยาศาสตร์กายภาพ และวัสดุศาสตร์ทั้งที่ผ่านการเคลือบและไม่เคลือบด้วยโลหะ การวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีของวัสดุ |
| ชื่อเครื่องมือ : กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดผิววัตถุ (Scanning Electron Microscope: SEM) |
| ยี่ห้อ : JEOL รุ่น : JSM-IT200 |
| ปีที่ทำการสั่งซื้อ : 2562 |
| ชื่อห้องปฏิบัติการ : ห้องปฏิบัติการ FT-IR และ SEM |
| อาคาร : ศูนย์วิทยาศาสตร์ |
| ผู้รับผิดชอบ : นางสาวสุจิตรา แสงชัยศรี |
อัตราค่าบริการ :
- 1,500 บาทต่อชั่วโมง, กรณีถ่ายภาพ ≤ 3 ภาพ, ถ่ายภาพเพิ่ม 50 บาทต่อภาพ
- วิเคราะห์ธาตุด้วย EDS 500 บาทต่อ 3 จุด
- วิเคราะห์ธาตุด้วยวิธี EDS แบบ Mapping 500 บาท
- เคลือบชิ้นงาน 400 บาทต่อครั้ง
|
